专用集成电路检测方法 专用集成电路的高新技术

编辑:小豹子/2018-04-13 14:59

专用集成电路是20世纪50年代后期一60年代发展起来的一种新型半导体器件电路。它是经过氧化、光刻、扩散、外延、蒸铝等半导体制造工艺,把构成具有一定功能的电路所需的半导体、电阻、电容等元件及它们之间的连接导线全部集成在一小块硅片上,然后焊接封装在一个管壳内的电子器件。接下来小编为大家介绍专用集成电路检测方法及专用集成电路的高新技术。

专用集成电路检测方法

1、不在路检测

一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值,并和完好的集成电路或给出的各脚正反电阻值表进行比较,判别电路的好坏。

2、在路检测

用万用表检测IC各引脚在路(IC接在电路中)对地交、直流电压、直流电阻及总工作电流,与给定正确(参考值)相比较进行判别的检测方法。

专用集成电路凤凰彩票欢迎你(5557713.com)的高新技术

1、集成电路设计技术

自主品牌ICCAD工具版本优化和技术提升,包括设计环境管理器、原理图编辑、版图编辑、自动版图生成、版图验证以及参数提取与反标等工具;器件模型、参数提取以及仿真工具等专用技术。

2、集成电路产品设计技术

音视频电路、电源电路等量大面广的集成电路产品设计开发;专用集成电路芯片开发;具有自主知识产权的高端通用芯片CPU、DSP等的开发与产业化;符合国家标准、具有自主知识产权、重点整机配套的集成电路产品,3G移动终端电路、数字电视电路、无线局域网电路等。

3、集成电路封装技术

小外型有引线扁平封装(SOP)、四边有引线塑料扁平封装(PQFP)、有引线塑封芯片载体(PLCC)等高密度塑封的大生产技术研究,成品率达到99%以上;新型的封装形式,包括采用薄型载带封装、塑料针栅阵列(PGA)、球栅阵列(PBGA)、多芯片组装(MCM)、芯片倒装焊(FlipChip)、WLP(Wafer Level Package),CSMP(Chip Size Module Package),3D(3 Dimension)等封装工艺技术。

4、集成电路测试技术

集成电路品种的测试软件,包括圆片(Wafer)测试及成品测试。芯片设计分析验证测试软件;提高集成电路测试系统使用效率的软/硬件工具、设计测试自动连接工具等。

5、集成电路芯片制造技术

CMOS工艺技术、CMOS加工技术、BiCMOS技术、以及各种与CMOS兼容工艺的SoC产品的工业化技术;双极型工艺技术,CMOS加工技术与BiCMOS加工技术;宽带隙半导体基集成电路工艺技术;电力电子集成器件工艺技术。

6、集成光电子器件技术

半导体大功率高速激光器;大功率泵浦激光器;高速PIN-FET模块;阵列探测器;10Gbit/s-凤凰彩票网(5557713.com)40Gbit/s光发射及接收模块;用于高传输速率多模光纤技术的光发射与接收器件;非线性光电器件;平面波导器件(PLC)(包括CWDM复用/解复用、OADM分插复用、光开关、可调光衰减器等)

编辑总结:关于专用集成电路检测方法及专用集成电路的高新技术就介绍到这里了,希望对大家有所帮助。想了解更多相关知识,可以关注齐家网资讯。

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